材料調査

損傷調査

金属材料や溶接部に発生した破損、摩耗、割れ、腐食などのトラブルについて、走査型電子顕微鏡(SEM)、電子線マイクロアナライザ(EPMA)、透過型電子顕微鏡(TEM)、X線光電子分析装置(ESCAまたはXPS)などを駆使して、その原因を調査し、対策まで含めた報告書を作成します。

[ 損傷評価例 ]

材料評価

電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡(FE-SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)などを用いて、金属材料や溶接部の材料評価(結晶方位、格子欠陥、析出物の状態など)を実施しており、金属材料や溶接材料などの研究開発に寄与する報告書を提供します。

材料評価例―1〔TEM組織観察-1〕
材料評価例―2〔TEM組織観察-2〕
材料評価例―3〔EBSD結晶方位解析〕