(19) Ｘ線回折試験

概要

原子が規則的に配列している物質（結晶質のもの）に特性Ｘ線を照射すると、測定物が持つ結晶構造（結晶面間隔）に特有な角度で回折を起こします。Ｘ線回折装置は、回折したＸ線の角度やⅩ線強度を測定することによって、結晶構造つまり物質名を調べる装置です。定性分析時の回折位置や積分強度から、リートベルト解析法による物質ごとの定量分析も行うことができます。また、高温下（常用で室温～1300 ℃）での測定も可能です。

適用対象

• 結晶質のもの（非晶質の物質は測定できない）

試験項目

• 結晶構造の同定、定量分析
• 結晶格子の大きさ測定

適用例

• 鉱物原料の同定解析
• 金属中析出物などの同定解析（鋼に析出した炭化物などを抽出残さ法で抽出して調べる）
• 腐食生成物の同定解析による腐食環境の推定

保有機器の主な仕様

ターゲット

Cu

試験温度

室温～1500 ℃（常用：1300 ℃まで）

最大定格出力

18 kW （ローターフレックス型）

ゴニオメータ

試料水平型

微小部測定

最小φ400 μm

自動交換アタッチメント

10試料